X荧光光谱仪 rohs检测仪 合金元素分析仪

              EDXEDX 2880B型X荧光光谱仪

产品特点

 工作条件

  ● 工作温度：15-30℃ 

  ● 相对湿度：40%～50% 

  ● 电  源：AC :220V ±5V

技术性能及指标:

1.元素分析范围从硫(S)到铀(U)，同时可以分析几十种以上元素，五层镀层，镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）；

 （1）元素含量分析范围为1 PPm到99.99%，镀层分析可以分析0.005um厚度样品；

 （2）测量时间：100-300秒；

 （3）RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度较高达1PPM；  

 （4）能量分辨率为160±5电子伏特；

  (5)温度适应范围为15℃至30℃；

  (6)电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）

产品特点

   EDX 2880B是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品，另外可同时测试材料的成分和镀层后台。

     1.2 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。

     1.3 采用美国较新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

     1.4 采用*的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。

     1.5 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。

     1.6 八种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。

     1.7 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品较高级。

     1.8 先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到较大提高，保证了核心部件的运行安全。

     1.9 *有的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。

     1.10 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。

     1.11 ROHS**测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。

         1.12 本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。

2.仪器硬件部分主要配置置           

                 2.1 Si-pin电制冷半导体探测器:（新型探测器） 

         2.1.1.  Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：160±5电子伏特

           2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测的信息,进一步放大。

2.2  X射线激发装置: 

2.2.1. 灯丝电流较大输出：1mA；

2.2.2 .属于半损耗型部件，50W，空冷。

2.3  高压发射装置:

2.3.1. 电压较大输出： 50kV；

2.3.2.较小5kv可控调节

2.3.3.自带电压过载保护

2.4 数字多道分析器:                      

2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。

2.4.2  .较大道数： 4086；

2.4.3  包含信号增强处理

2.5光路过滤模块

 2.5.1  降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。

 2.5.2  将准直器与滤光处整合；